半導體微流控芯片系統中測溫及控溫系統

半導體微流控芯片系統中測溫及控溫系統

半導體微流控芯片系統中測溫及控溫系統

半導體微流控芯片系統中測溫及控溫系統

半導體測試器件發展新起點

　　長期以來，由于集成電路的高速發展，我國元器件行業一直受困于材料以及工藝方面種種制約，半導體以及芯片的生產測試，尤為重要，所以，這對于無錫冠亞半導體測試器件來說又是一個新的機遇。

　　集成電路快速發展的時代下，也在呼喚國產測試裝備的出現，在這樣的背景下，無錫冠亞半導體測試器件得到了推廣，經過長時間的籌備，已經投入生產銷售中。

IC測試設備發展前景

　　隨著集成電路的不斷發展，IC測試設備的需求量也越來越大，那么無錫冠亞IC測試設備有怎么樣的發展前景呢？IC測試設備在未來有著怎樣的挑戰呢？

　　集成電路應用越趨于廣泛，IC測試設備需求量越來越大，對測試成本要求越來越高，因此對IC測試設備的測試速度要求越來越高，由于集成電路參數項目越來越多，如電壓、電流、時間、溫度、電阻、電容、頻率、脈寬、占空比等，對IC測試設備功能模塊的需求越來越多。IC測試設備狀態、測試參數監控、生產質量數據分析等方面，結合大數據的應用，對IC測試設備的數據存儲、采集、分析方面提出了較高的要求。客戶對集成電路測試精度要求越來越高，如對IC測試設備的精度要求從1%提升至 0.25%、時間測量精度提高到微秒，對IC測試設備測試精度要求越趨嚴格。

　　IC測試設備廣泛運用于半導體設備高低溫測試，電子設備高溫低溫恒溫測試冷熱源，獨立的制冷循環風機組。IC測試設備可連續長時間工作，自動除霜，除霜過程不影響庫溫，模塊化設計，備用機替換容易（如果有10臺機子，只要一臺備用機組即可）。IC測試設備解決頻繁開關門，蒸發系統結霜問題；蒸發系統除霜過程不影響。構筑一套高低溫恒溫室變的簡單（根據提供的圖紙，像搭積木一般拼接好箱體，連接好電和水，設定好溫度即可工作）

　　隨著IC測試設備的不斷發展，其測試的集成電路也在不斷增加測試，運行也在不斷高效穩定運轉中，前景也是很可觀的。