半導體芯片高低溫試驗箱Chiller,TES-45A25的典型應用： 適合元器件測試用設備，在用于惡劣環境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環境測試模擬。

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半導體芯片高低溫測試機Chiller,元器件用的典型應用： 適合元器件測試用設備，在用于惡劣環境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環境測試模擬。

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